Cel Szkolenia:

Celem szkolenia jest przygotowanie uczestników do przeprowadzenia skutecznej analizy systemów pomiarowych zarówno przy ocenie liczbowej jak i atrybutowej. Jakość systemu pomiarowego warunkuje jakość otrzymanych danych, co w konsekwencji prowadzi do jakości analiz, które są przeprowadzane na podstawie tych danych. Kolejnym celem kursu jest zaznajomienie uczestników z jedną z takich analiz – SPC.

Poprzez dużą liczbę praktycznych przykładów a także samodzielnych ćwiczeń obejmujących powyższe tematy, szkolenie zapewnia zrównoważoną liczbę informacji potrzebnych do samodzielnego realizowania zadań związanych z systemami MSA i SPC. 

• W trakcie szkolenia prowadzone są ćwiczenia, które mają na celu symulację procesów MSA i SPC.
• Udział w szkoleniu zostanie potwierdzony imiennym certyfikatem.
• Szkolenie jest szkoleniem autorskim i bazuje na doświadczeniu trenera.
• Każdy uczestnik otrzymuje wysokiej jakości materiały szkoleniowe.

  MSA

1)      System MSA – podstawy i wprowadzenie.

• Przegląd pojęć i terminów związanych z MSA,
• Cel badania zdolności systemów pomiarowych,
• Zagadnienia związane z badaniem zdolności wyposażenia pomiarowego,
• Potrzeba wykonania MSA,
• Konsekwencje złej analizy.

2)      MSA dla pomiarów liczbowych i atrybutowych.

• Stabilność i liniowość systemu,
• Powtarzalność i odtwarzalność pomiarów – analiza R&R,
• Metody oceny skuteczności pomiarów,
• Metoda Kappa dla pomiarów atrybutowych,
• Tolerancje jednostronne i dwustronne.

3)      MSA – przykłady, analiza oraz interpretacja wyników.

• Przeprowadzenie analizy MSA,
• Interpretacja wyników,
• Prezentacja szeregu przykładów z różnorodnych systemów pomiarowych wraz ze szczegółowym omówieniem.

SPC 

      1)      System SPC – podstawy i wprowadzenie.

• Potrzeba i rola sytemu SPC w nowoczesnym systemie zarządzania jakością.
• Korzyści z wprowadzenia / stosowania SPC.

2)      Wprowadzenie do statystyki.

• Omówienie podstawowych zagadnień ze statystyki,
• Rodzaje i źródła zmienności,
• Rozkład normalny – istota, przykłady, badanie rozkładu,

3)      Metody monitorowania oraz zbierania danych.

• Zasady doboru kart w zależności od charakteru procesu produkcyjnego,
• Karty kontrolne dla danych mierzalnych,
• Karty kontrolne dla danych atrybutowych,

4)      Obliczanie zdolności jakościowej procesu

• Oceny zdolności jakościowej procesów,
• Sposoby obliczania oraz analiza współczynników Cp, Cpk, Pp, Ppk.
• Interpretacja wyników zdolności jakościowej.

  Dla Państwa przygotowany został plan szkolenia + informacje ogólne w formie pliku pdf, aby łatwo można było pobrać i wydrukować niezbędne szczegóły dotyczące oferty.